德国Mahr 马尔 MarSurf CM select 共聚焦显微镜，三维测量和分析

MarSurf CM select 是强大的可配置型共聚焦显微镜，用于表面的三维测量和分析 – 非接触，与材料无关，而且速度快. 

典型测量任务

粗糙度测量符合 

ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178

表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）

轮廓和形状 (2D, 3D)

孔，颗粒分析

缺陷检测

根据应用调整的测量解决方案

作为一个多传感器系统，MarSurf CM select 将多种传感器技术结合到了一个测量设备中。也可以根据测量任务选择最佳的点传感器。MarSurf CM select 可以满足您对样品尺寸、自动化、测量舒适度和准确性的个性化要求 – 甚至全自动的测量解决方案。

最高数据质量

我们最重要的标准之一，即优异的精度、准确性、可再现性和文档记录，保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值。